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Oberflächen- & Profilmesssystem OSIRIS NEXTSENSE GmbH

Oberflächen- & Profilmesssystem OSIRIS

Sonstige Messsysteme

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OSIRIS ist ein stationäres, optisches Messsystem zur Inline-Kontrolle von Maßhaltigkeit und Oberflächengüte von Langprodukten. Mit modernster Laser-Lichtschnitttechnologie und hohen Abtastraten bieten die OSIRIS-Systeme eine vollständige 3D-Rekonstruktion des Produktes. Mit der Variante OSIRIS Hot können bis zu 1.100 Grad heiße Langprodukte analyisiert werden. Die Messergebnisse werden in Echtzeit auf dem Kontrollterminal angezeigt und erlauben dadurch frühzeitige Korrekturmaßnahmen zur Erhöhung von Durchsatz und Produktqualität. Durch die Oberflächeninspektionsfunktion werden vollautomatisch Abweichungen der Produktoberfläche (Ausbrüche, Riefen, Aufwalzungen, etc.) erkannt und klassifiziert. Zusätzlich werden gleichzeitig Profilschnitte des Langgutes erzeugt um Längenmaße wie Breite und Höhe, diverse Radien und Winkel zu überprüfen. Unterschiedliche Baugrößen erlauben die Messung großer und kleiner Langgüter.

Technologie: Laserlichtschnitt Funktionen: Oberflächeninspektion + Profilmessung Varianten: OSIRIS Hot / OSIRIS Cold
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